嵌入式膜厚檢測儀

產(chǎn)品簡介
● 采用分光干涉法

● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專zhuan利第4834847號）

● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測量系統(tǒng)

● 可嵌入至各種制造設(shè)備。

● 實(shí)時(shí)測量膜厚

● 可對應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測量

● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源

產(chǎn)品型號：

更新時(shí)間：2025-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：480

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強(qiáng)試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測試系統(tǒng) 漫反射率測試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

顯微分光膜厚儀的智能化功能與操作體驗(yàn)

顯微分光膜厚儀是一種高精度的測量儀器

波片的幾種類型的分析介紹

顯微熒光成像系統(tǒng)的主要技術(shù)特點(diǎn)和功能

詳細(xì)介紹在線留言

產(chǎn)品信息

測量項(xiàng)目

多層膜厚解析

用　途

光學(xué)薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）

FPD相關(guān)（光刻膠、SOI、SiO2等）

設(shè)備構(gòu)成

單點(diǎn)型

嵌入式膜厚檢測儀

半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量

玻璃基板的面內(nèi)分布測量

多點(diǎn)型

嵌入式膜厚檢測儀

實(shí)時(shí)測量

流向品質(zhì)管理

真空室適用

導(dǎo)線型

嵌入式膜厚檢測儀

實(shí)時(shí)測量

寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

嵌入式膜厚檢測儀

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個(gè)：小角激光散射儀 PP-1000